FPGA高温动态老化系统

BM-F01

价格: RMB10000~30000

符合标准：
AEC-Q100, MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548.GJB597等试验标准。

适用范围：
适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路,包括微处理器、逻辑电路、可编程器件、存储器、A/D、D/A等器件的工作寿命试验和高温动态老炼筛选。

技术特点：
—板—区,可满足多种同试验参数的器件同时老化。
强大的图形发生系统,64路数字和4路模拟可编程信号。
可回检输入或输出波形的频率或幅度。

型号	BM-F01
系统分区	16区	32区
电源配置	华为通讯电源
适用范围	各种封装的FPGA及大规模集成电路
符合标准	GJB548
二级电源	6路；单路最大电流：50A ; 总电流：110A;
数字信号	64路；最高频率10M;
检测通道	64路
SPI下载	支持SPI在线下载
高频时钟	系统自带
通讯模式	TCP/IP网络通讯
供电要求	AC380V 50Hz 三相