产品展示
芯为科技 | 老化测试设备 | 高温动态老化系统 | 老炼系统
集成电路高温动态老化系统
IC-100H
二极管老化测试台
XW-D100
光MOS型继电器老炼系统
HT-E161
FPGA高温动态老化系统
BM-F01
FPGA高温动态老化系统，老化测试设备
BM-F02
固体继电器老炼试验系统
SSR01
老化板系列-DIP封装
DIP封装
老化板系列-SO老化板
SO老化板
老化板系列-CSOP封装
CSOP封装
老化板系列-SO封装
SO封装
老化板系列-DIP封装
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